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CAMECA suministra equipamiento de metrología in-Fab y near-Fab en el ámbito semiconductor, basado en técnicas analíticas LEXES, SIMS y TXRF. También ofrece instrumentación científica avanzada, EPMA, SIMS y sondas atómicas, para laboratorio destinados a universidades, centros de investigación y empresas privadas dedicadas al estudio de materiales, geología, astrofísica, semiconductores y ciencias de la vida.
CAMECA, ubicada a las afueras de París, dispone de oficinas en USA, Taiwán y Alemania, y ha estado al frente de la innovación tecnológica durante más de 50 años, y ya dispone de más de mil instrumentos instalados.
La técnica por microsonda electrónica de barrido (EPMA) es no destructiva y aporta información cualitativa y cuantitativa en análisis elemental ...
La técnica SIMS es la más sensible para el análisis elemental e isotópico de superficies. La técnica SIMS proporciona la combinación única ...
El LA-WATAP es una técnica cuantitativa que proporciona a escala atómica un mapa elemental en 3D de heterogeneidades en materiales ...
El principio de la técnica, espectrometría de emisión de rayos X mediante electrones de baja energía (LEXES) consiste en la irradiación de una ...
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