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SPECS, fundada en 1983, ha crecido hacia el estado del arte de la tecnología del análisis de supercifies por XPS, tanto en sistemas complejos como en componentes individuales.

Ofrece analizadores de energía, fuentes de rayos X, fuentes de iones, fuentes de electrones; microscopía por sonda de barrido; LEEM/PEEM; LEED; componentes para el crecimiento de capas finas (RHEED, fuentes de plasma, evaporadores por haz de electrones).

SPECS está formada por un equipo de científicos e ingenieros dedicados al diseño y fabricación de instrumentos para nanotecnología, ciencia de materiales y ciencias de superficie, para aproximarse a los diferentes requerimientos de forma precisa e individualizada.

Surface Analysis