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A metrologia de superfícies é uma ciência chave para o controlo de qualidade na indústria, já que muitas das propriedades dos materiais dependem do acabamento da superfície, da presença de defeitos, da uniformidade dos recobrimentos ou da precisão no instante de definir o perfil padrão ("pattern") na nano-micro fabricação de dispositivos electrónicos.
Na era da nanotecnologia, os equipamentos que permitam caracterizar a superfície à escala nanométrica tornam-se imprescindíveis, tanto para as actividades de investigação básica, como para o controlo de qualidade nos processos industriais.
La microscopía de fuerza atómica se basa en la interacción entre una punta muy fina y la superficie de la muestra. Se trata de provocar un ...
La microscopía interferométrica es una técnica de no contacto para la caracterización de superficies en tres dimensiones ...
La perfilometría mecánica o de contacto es una técnica de análisis superficial 2D, basada en un estilete. La técnica consiste en la medida del ...
Bruker se compromete a ofrecer la mejor calidad del mercado en cuanto a puntas AFM. La fábrica de nanofabricación de puntas dedicada está ...
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